返回主站
|
会员中心
|
手机浏览
泰瑞达(上海)有限公司
网站首页
公司介绍
解决方案
新品发布
资讯中心
资料下载
联系我们
交换名片
首页
>
新品速递
以橱窗方式浏览
|
以目录方式浏览
新品速递
图片
标 题
更新时间
精密模拟和混合信号测试平台
优势可视化软件预编写子测试可以帮助用户克服离散测试系统中常见的编程局限性。与旋转和转塔分选机紧密集成,能够为客户提供完整的封装测试分立解决方案。方案中集成的帮助文件提供了有关测试的详细说明,以及用于优化测试例程的其他方框图表和工具提示。应用
2021-04-08
J750Ex-HD 系列
J750Ex-HD 选配件可用于测试 MCU 内的所有元器件,包括:高速数字 800 板卡 (HSD800),提供数字功能和特性分析测试内存测试选配件 (MTO),用于嵌入式内存测试数字信号发射和接收 (DSSC),安装在每个引脚后,用于存储和混合信号深度扫描历史 RAM (
2021-04-08
IP750Ex-HD 系列平台
我们的客户深知,泰瑞达遍布全球的应用支持提供了无与伦比的测试专业能力。 这一切都诠释了图像传感器市场始终将 IP750Ex-HD 图像传感器测试系统作为首选测试解决方案的原因。一直以来,IP750EX-HD 测试平台支持着业界不断制造出高质量的 CCD 和 CMO
2021-04-08
资讯中心
泰瑞达:六十载创新,测试芯未来
泰瑞达任命Kim Povlsen为优傲机器人总裁
泰瑞达交付第10000台测试系统 产业助推力永不凋谢
产品分类
暂无分类
站内搜索
新品速递
资讯中心
荣誉资质
暂未上传
友情链接
暂无链接
管理入口
|
返回顶部
©2024泰瑞达(上海)有限公司 版权所有 技术支持:
CK365测控网
访问量:
60