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爱德万测试推出RND440 Type 3治具装置

半导体测试设备领导厂商<span class="highlight">爱德万测试</span>推出RND440 Type 3治具装置,作为强化T6391 LCD驱动IC(DDI)测试机台...

爱德万测试荣获AMTC 2014年度最佳供应商称号

7月14日,全球领先的半导体测试设备供应者<span class="highlight">爱德万测试</span>荣获AMTC公司2014“年度最佳供应商”称号,此殊荣肯定了<spa...

爱德万测试发表全新多功能存储器测试系统T5833

随着移动电子设备销售量的不断攀升,主要搭载于智能手机及平板电脑上的DRAM、NAND闪存与多芯片封装存储器 (MCP) 正朝着快速提升速度与容量的方向...