罗德与施瓦茨公司的R&S RTO和R&S RTP示波器推出的新选件可以帮助开发工程师更深入地了解其传输接口的每一个抖动成分。现在，工程师可以将抖动分离为随机性抖动和确定性抖动，并灵活地查看结果以进行有效的调试。罗德与施瓦茨使用参数信号模型分离算法以获得精确的测量以及额外的附加结果。
罗德与施瓦茨开发了一种创新而强大的方法来分析抖动的各个组成部分，从而让电路设计者能够获得前所未有的深入了解，这对于调试高速信号是非常有价值的。
随着数据速率的提高和电压摆幅的减小，数字接口的抖动占据了信号间隔的很大比例，同时也成为潜在的故障源头。因此工程师越来越需要能够精确测量信号抖动的工具，包括将其分离成各个抖动成分。
新的R&S RTO-/ RTP-K133高级抖动分析选件引入了一种分析方法来分离出各个抖动成分，如随机性抖动和确定性抖动(如数据相关抖动和周期性抖动)。这种方法基于一种参数信号模型，该模型可以完全表征被测的传输链路。
罗德与施瓦茨这种方法的核心优势在于，它的抖动模型包括了被测信号的完整波形特征，而相比之下，传统方法将数据缩减为一组时间间隔误差测量值。因此，即使是相对较短的信号序列，新的方法也可以获得一致的测量数据，以及先前不可用的信息如阶跃响应，或垂直和水平周期性抖动之间的区别。工程师可以从抖动表现的深层次细节中获益，包括合成眼图，所有单个抖动成分的直方图，周期性抖动的频谱和峰值视图，以及用于估算误码率的浴盆图。
罗德与施瓦茨高级副总裁兼示波器部门负责人Josef Wolf表示，R&S RTO-/ RTP-K133选件将受到市场欢迎。他提到：“我们非常自豪为市场带来了这种先进的方法，这是近二十年来首次对示波器抖动分离进行真正改进的新方法。利用新的高级抖动组件，我们可以帮助工程师获得更多其信号抖动特征前所未有的深层次细节。”
这个新的抖动分离组件为工程师扩展了信号完整性调试功能，补充了业界仅有的集成式时域反射(TDR)/时域传输(TDT)测量方法，以及在单个示波器中的实时去嵌入功能。
罗德与施瓦茨现在可以为R&S RTO和R&S RTP示波器提供R&S RTx-K133选件。1月28日至30日在加利福尼亚州圣克拉拉市举行的DesignCon 2020展会上，罗德与施瓦茨已在其展位上进行了现场演示。
