2016年6月1日–NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，宣布“第十三届PXI技术和应用论坛(PXI TAC 2016)”将于2016年6月16日于上海雅居乐万豪酒店举行。
PXI TAC是国内首屈一指的专业技术论坛，连续举办13年，已经成为业内历史最悠久、影响力最大的技术交流和成果展示平台。今年，PXI TAC进一步扩大活动规模，预计将有来自全国各地的多达500余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表相聚一堂，共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，探讨PXI技术的发展趋势和应用案例，所有参与者也将有机会与来自全国的行业精英与同仁面对面交流，目睹更多基于PXI技术的创新解决方案。
作为一年一度的行业盛会，今年PXI TAC的亮点包括：
lPXI新技术平台区，包括业内首创的PXI Gen3系统和NI的PXImc技术等;
l工业应用区，展现NI针对自动化测试平台、半导体测试、射频通信和物联网等领域的PXI应用案例;
l客户服务区，由NI工程师现场提供技术维修服务咨询和优化的客户培训课程;
l基于PXI构建自动化测试系统动手课程，体验基于PXI平台和LabVIEW、TestStand等软件规划、设计、开发、实现并优化一个完整自动化测试系统的全过程。
借助本次全国精英相聚一堂的契机，本年度PXI TAC还特设了半导体测试应用论坛，针对“物联网驱使下半导体测试的挑战和解决方案”等热点议题，邀请行业专家、技术领袖及资深用户，围绕NI在半导体行业的解决方案，深入探讨半导体测试应用的挑战及应对解决方案。
此外，本届PXI TAC也成功吸引了业内众多厂商的积极参与，北京经纬恒润科技、上海其高电子、北京中科泛华、上海聚星仪器等14家公司将作为参展商参与此次盛会，展示各自借助PXI技术开发的多项创新成果。
PXI TAC现已开始接受报名。如需报名或了解更多详情，请登陆NI官方网站的PXI TAC活动专题页：
http://sine.ni.com/nievents/app/overview/p/eventId/3182/site/cn/country/cn/lang/zhs/scope/country/location/cn
