美企业推出超光谱成像传感器 应用植物监测领域

   日期:2014-08-13    
核心提示:近日,美国企业Headwall Photonics公司(以下简称Headwall公司)推出了一款高分辨率超光谱传感器。该传感器光谱波长为0.1nm,光波照射到植物上产生荧光可测量植物健康状态。此次Headwall公司设计的超光谱成像仪,可以利用非常高的分辨率分析叶绿素荧光发射。同时,该成像仪的高吞吐量可以为遥感研究人员、持续监测专家和农场主提供数据用于环境决策。

近日,美国企业Headwall Photonics公司(以下简称Headwall公司)推出了一款高分辨率超光谱传感器。该传感器光谱波长为0.1nm,光波照射到植物上产生荧光可测量植物健康状态。此次Headwall公司设计的超光谱成像仪,可以利用非常高的分辨率分析叶绿素荧光发射。同时,该成像仪的高吞吐量可以为遥感研究人员、持续监测专家和农场主提供数据用于环境决策。

据悉,Headwall公司推出的这一传感器基于该公司全反射同轴光电技术进行设计,使用高衍射效率光栅实现同时空间和光谱的高分辨率。传感器还提供了低杂散光和最小化梯形失真。此外,由于该传感器采用全反射传感方式,意味着无透射光,这使得传感器整体封装不仅更适于空间应用,而且更加轻捷。

 
  
  
  
  
 
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