日前，安捷伦科技公司宣布推出LTE/LTE-Advanced多通道PXI测试解决方案，新推出的解决方案可加速配置多通道测试系统，助力工程师更好地完成复杂的载波聚合和空间多路复用MIMO设计工作。
目前，多天线设计需要越来越精密的多通道测试配置，设计和表征用于基站、微蜂窝、微微蜂窝、中继器和移动设备等的元器件和射频子系统变得更加复杂。面对这一挑战，安捷伦推出的最新测试解决方案，其能够生成复杂的LTE/LTE-A多通道/MIMO波形，并能够同时在频域和调制域进行多通道分析。同时，该设备具有的易用的图形用户界面可显著缩短测试配置的设置时间。此外，这一新的测试解决方案还对LTE/LTE-Advanced MIMO和载波聚合的设置进行了优化。
此次安捷伦新推出的解决方案中，还配有机箱背板触发工具，可以配置和发送背板触发，允许两台PXIe机箱实现最佳的MIMO时间同步。安捷伦RF M9381A PXIe矢量信号发生器搭配M9391A PXIe矢量信号分析仪，可以在多通道之间提供小于0.38%的EVM和小于20纳秒的时间同步，由此轻松实现时间同步的2x2或4x4 MIMO测试。此外，新测试解决方案还支持高达160MHz的信号生成和分析带宽，适用于广泛的LTE-Advanced载波聚合应用。
