日前，安捷伦科技宣布推出最新的自动夹具移除(AFR)选件。该选件主要用于安捷伦PNA系列网络分析仪。此前，这项误差校正技术仅在安捷伦物理层测试系统(PLTS)软件中提供。拥有自动夹具移除(AFR)选件后，工程师将可以轻松、快速地进行非同轴器件精确测量，使其减少时间和资金的投入。
如今业内的许多器件都没有同轴连接器，只能通过夹具才能在同轴环境下进行测量。然而，要获得完美的被测件测量结果，需要精确去除夹具效应。尽管可以通过EM电磁仿真软件的建模，或者在基板上构建多个校准标准件来表征和去除夹具效应，但这些方法非常繁杂而且耗时。
而此次安捷伦推出的PNA AFR选件可帮助工程师快速、精确地去除非同轴器件测量环境中的夹具效应，工程师可以使用快捷的“五步向导程序”完成必要操作，然后将去嵌入文件保存为多种格式，以便日后在PNA、PLTS和先进设计系统软件中使用。
当工程师使用AFR选件时，工程师要首先对夹具输入端的参考面进行同轴校准;然后再测量一个或多个标准件，将其作为夹具的2端口直通通道，或者充当开路或短路的半端接夹具。而如果只使用单端口的AFR，实施夹具去嵌入的过程可以更快。在被测件安装之前先对实际夹具的测量作为开路状态，之后，AFR选件会自动表征夹具，并将夹具效应从测量结果中去除。
