泰克公司日前宣布推出对其USB 3.0测试解决方案的一系列增强特性，包括业内首个针对SuperSpeedPlus 10 Gb/s规范的发射器测试解决方案。其他增强包括新USB 3.0基于示波器的分层解码功能，以及针对发射器测试的增强型自动化解决方案，其可使测试吞吐量提高多达60%。
USB 3.0的更快数据率带来了新的测试挑战，最显著的就是信道损耗的大幅增加和信噪比的减小，以及更复杂的链路训练和必须加以验证的定时要求。随着设计余量的减小，拥有准确和标准的特定测量系统变得空前重要。泰克SuperSpeedPlus USB测试解决方案(选项SSP)可完全满足所有这些需求。
“正如USB 3.0等重要行业标准随着时间的推移而发展一样，我们测试与测量工具也必须发展”，泰克公司高性能示波器总经理Brian Reich表示，“我们USB测试解决方案的最新增强使工程师能够进行针对最新版USB规范的一致性验证，无缝地解码总线操作以加快调试任务，以及显著减少测试时间，同时进行自动一致性测试。”
由于更紧张的时间要求和更高的设计复杂性，工程师需要各种灵活的工具来进行跨越多层总线的分析，以更快找出问题所在。泰克USB 3.0解码软件通过协议专属的触发、易于使用的搜索和导航以及多层解码功能来简化调试任务。这使用户能够轻松浏览协议栈，与同一屏幕上的模拟波形具有完全的时间相关性。
新TekExpress USB自动化软件(选项USB-TX)利用泰克的多年USB一致性测试专业知识，同时结合新的软件架构来提供显著的性能改善。客户将会使测试时间减少约 60%。例如，以前完成USB 3.0 Tx测试需要12分钟，但现在使用新TekExpress软件只需5分钟。
“到 2013年底，SuperSpeed USB产品出货量将达到5亿，USB仍然是用于主机和外围通信的领先互连解决方案”，USB-IF总裁兼首席运营官Jeff Ravencraft表示，“泰克等领先测试与测量设备提供商的支持对确保我们的成员公司能够快速将经过鉴定的USB 3.0产品和解决方案带给市场非常重要。”
