安捷伦科技有限公司日前宣布推出业内最低价位的 USB 2.0 信号质量测试选件。适用于 InfiniiVision 4000 X 系列示波器，支持低速、全速和高速的 USB2.0 应用。USB2.0 接口目前已广泛用于计算机和嵌入式电子产品中。
长期以来，示波器一直是电气工程师验证USB2.0设计信号完整性的主要工具。在 Agilent InfiniiVision 4000 X 系列示波器上安装新的 DSOX4USBSQ 信号质量测试选件后，您可以根据USB-IF标准来快速验证 USB 的信号质量，不管它是集线器、主机还是器件。
嵌入式电子产品工程师一般不会进行正式的 USB-IF认证测试，因为非个人电脑(PC)产品通常不需要USB-IF 认证。但是，为了确保可靠性，嵌入式系统设计人员经常会根据USB-IF标准测试设计的物理层，以作为一项“实际验证测试”，在投产前确保设计的信号质量符合标准。安捷伦新发布的 USB 2.0 信号质量测试选件提供了一个低价位的测试解决方案。
在传统计算机/外设行业，工程师通常必须执行USB-IF物理层认证和测试。但是，小型公司可能无法承担全套高性能测试设备的成本，因而面临着预先一致性物理层测试挑战。借助Agilent USB 2.0 信号质量测试选件和InfiniiVision 4000 X系列示波器，工程师可以获得一个经济的解决方案，以执行重要的信号质量物理层测试，确保最终产品可以通过 USB-IF 工作组的认证测试。
USB 2.0 信号质量测试选件采用的是官方USB-IF 算法，可生成HTML 合格/不合格报告，包括眼图模板测试、抖动分析、数据包结束比特宽、信令速率、边沿单调性和上升/下降时间。
