据美国时间7月4日报道：X射线荧光分析仪(XRF)领先制造商美国EDAX公司于当日宣布，其最新推出的硅漂移探测器在高计数率下拥有高分辨率光谱采集能力。据悉，这个50平方毫米的硅漂移探测器在检测信号极弱条件下的应用程序中，其收集光谱数据与30平方毫米SOD相比，时间上减少了一半。而在检测信号饱和的应用程序下，比如铁基合金的测量，由于其X射线光管电流因使用寿命考虑会减少，EDAX最新的探测器在这种条件下仍是极具效益的。
据EDAX公司产品技术经理表示，公司对于这款新品的性能非常满意，它在数据采集速度和测量精度上做出了重大的进步。这款新品的用途相当广泛，它极适合于那些需要对小碎片;墨迹纸、生物样品这样的薄底物涂料;以及使用更重过滤器提高微量元素分析灵敏性的用户使用。
另据了解，EDAX是全球领先电子仪器和机电设备制造商AMETEK公司的材料分析单元分支。EDAX是公认的能量色散微量分析、电子散射衍射和X射线荧光仪器的领导者。它的产品主要在半导体、金属、地质、制药、生物材料、陶瓷市场上发挥重要作用。
