2012年5月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块，扩大了面向PXI Express模块的产品家族。 该高性能模块新增Pt100 RTD传感器，优化了温度测量功能，可实现多种热监测应用。 NI PXIe-4357模块将传感器专用的信号调理与24位ADC集成， 以100 S / s的采样率，对全部20条通道进行采样，精度最高可达0.09摄氏度。 为了扩展系统的通道数，工程师还可集成更多的NI PXIe-4357模块，或使用其它SC Express模块在同一系统中添加辅助传感器输入，包括热电偶、应变计、加速度计和FBG光学传感器。
新闻要点
· 电阻温度探测器(RTD)模块进一步扩展了测量性能，能够提供更高的温度精度。
· 工程师可使用NI SC Express 产品家族中的NI PXIe-4357 RTD模块，PXI以及LabVIEW实时模块来创建稳定的传感器测量系统，其通道数可从十扩展至数千
· SC Express将数据采集与信号调理集成在一个PXI模块中，从而实现高性能、稳定的传感器测量，以及速度和精度的优化
感言
“我们设计了SC Express，在单个模块上集成信号调理和AD转换，从而提高测量精度和稳定性。”; “SC Express基于PXI Express平台，工程师因此可以轻松地扩展通道数，与其它测量或控制模块同步，满足他们测试应用的具体需求。”
——Kevin Schultz，
美国国家仪器研发副总裁
产品介绍
NI PXIe-4357 RTD模块
· 提供20条通道，能够集成24位delta-sigma模数转换器与抗混叠和低通滤波器
· 以高达100 S/s/ch的采样率和0.09摄氏度的精度采集数据
· 业界最为可靠的测量，且完全支持LabVIEW实时模块
· 在同一PXI机箱、跨机箱或跨设备，与SC Express产品家族中的其他模块同步
有关此产品的详细信息, 请访问下列页面 http://www.ni.com/sc-express/zhs/
关于NI
自1976年以来，美国国家仪器，简称NI (www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。
