牛津仪器推出最新款快速可靠的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-Strata920，其稳定性和可靠性大大提升，加上圆滑的新设计，使其成为性价比极高的分析工具。
稳定性和可靠性提升
性能增强
符合安全标准
圆滑的新设计符合人体工程学
操作简单易学
牛津仪器非常荣幸地推出新款 X-Strata920 X射线荧光 (XRF) 镀层测厚和材料分析仪。它结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，确保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。
所以，无论您在质量控制过程中分析焊料合金，或鉴定金和珠宝，或测量配件生产中的电镀厚度，我们相信 X-Strata920 会为您提供理想的解决方案，在一个您满意的价格上带给您可靠的分析结果。
X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：
以更有效的过程控制来提高生产力
有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
快速无损地分析珠宝及其他合金
快速分析多达4层镀层
经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
操作简单，只需要简单的培训
X-Strata920 是按操作简单、精确度高、物有所值的理念来设计。大面积样品可用X-Strata的多点分析功能一次完成分析。如果发现问题区域，操作员可以返回到特定点用探针进行精确详细的分析。内置相机和实时扫描成像功能确保样品精确放置。X-Strata920 甚至不需要操作人员看管就可以确保您在生产过程中的停工期降到最低。
X-Strata920 配有各种材料筛选应用的校准包，预装了超过800种应用参数/方法。为了增强消费者信心，X-Strata920 符合国际测试方法，如ASTM B568和ISO 3497。
X-Strata920 具有先进的系统安全性的特点，为日常操作员设定简单的用户界面，而管理员级别可进入系统进行维护，并通过自动锁定功能防止未授权的操作。改进的报告功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义报告，包括统计数据分析和样品图象。
