泰克TLA7SA00系列逻辑分析仪荣获最佳测试奖

   日期:2011-05-27    
核心提示:在2011年5月4日“嵌入式系统大会”(Embedded Systems Conference)举行期间进行的颁奖仪式上,TLA7SA00系列逻辑分析仪被授予“总线分析仪”类别的最佳产品奖。“最佳测试”奖分16个类别。参加2011年“最佳测试奖”评选的产品或服务必须是在2009年11月1日至2010年10月31日之间推出的产品或服务。

  端到端PCIe 1.0/2.0/3.0调试解决方案在《Test & Measurement World》年度评选——总线分析仪类别的竞争中脱颖而出

  中国北京,2011年5月25日---全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test & Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”(Best in Test Award)。

  在2011年5月4日“嵌入式系统大会”(Embedded Systems Conference)举行期间进行的颁奖仪式上,TLA7SA00系列逻辑分析仪被授予“总线分析仪”类别的最佳产品奖。“最佳测试”奖分16个类别。参加2011年“最佳测试奖”评选的产品或服务必须是在2009年11月1日至2010年10月31日之间推出的产品或服务。

  “我们再次对各厂商提名的许多出色产品进行了评审”,UBM Electronics旗下杂志《Test & Measurement World》的编辑部主任Rick Nelson表示,“我们向泰克公司取得这一成就表示祝贺。”

  TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的综合性PCI Express 1.0/2.0/3.0测试解决方案,集协议分析与物理分析于一体。该解决方案包括TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件及探头,为PCIe开发者了解系统行为提供了独一无二的时间相关视图,从协议分析开始一直到物理层分析,帮助查找棘手问题的根本原因。

  “总线速度及复杂性一代胜过一代,我们意识到需要有一种将协议、逻辑及物理分析结合起来的新解决方案,以便更有效地确定棘手软硬件问题的原因”,泰克公司逻辑分析产品线总经理Dave Farrell表示,“TLA7SA00系列荣获最佳测试奖是对我们基于‘客户第一’原则的肯定,这一原则始终贯穿在我们重新定义总线分析测试仪的过程中。”

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  关于泰克公司

  60多年以来,工程师们不断向泰克寻求测试,测量和监测解决方案以应对设计挑战,提高生产效率,大幅缩短产品上市时间。泰克公司是一家领先的测试仪器提供商,为专注于电子设计、制造及先进技术开发的工程师提供支持。泰克公司的总部设在美国俄勒冈州毕佛顿,为全球范围内的客户提供备受赞誉的服务和支持 。获得前沿技术,请登陆www.tektronix.com.cn。

 
  
  
  
  
 
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