美国吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布增强了其ACS（Automated Characterization Suite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（wafer level reliability，圆片级可靠性）备选测试工具。4.0版以ACS软件已有的单点和多点并行测试功能为基础，增加了对数据库的支持，以及最新的RTM（Reliability Test Module，可靠性测试模块）软件工具和备选license以及ACS数据分析功能。此外，新增可靠性测试与数据分析工具使得基于ACS 测试系统进行寿命预测速度比传统WLR测试方案快5倍。在设计新集成电路技术研发、工艺集成和工艺监测阶段，通过加快WLR测试，ACS系统能够大大缩短新产品上市时间。
更多详情请访问keithley.acrobat.com/acswlr。
