新兴测量需求解决方案的领导者吉时利仪器公司(NYSE:KEI)，在2007年9月17日发布了其2600系SourceMeter®数字源表的两款新产品2635和2636，自此形成业界技术最先进、效费比最高的半导体参数分析与测试解决方案。2635和2636采用最新特殊参数分析技术，实现了高达lfa(10-15安)的测量分辨率，从而满足了很多半导体、光电和纳米器件的测试需求。此外，其基于仪器的多通道架构相比普通的基于主机的源测量方案降低了50％的成本。通过其测试脚本处理器(TSPTM)和TSP-LinkTM互连通信总线，测试工程师可利用2636和2635快速构建用于技术研究、特征分析、圆片分拣、可靠性测试、牛产监测等多种测试应用场合的高速测试系统。
2635和2636能够实现从飞安和微伏量级到200V／1.5A范围的高效费比直流和脉冲测试。它们可以配合PC机或独立工作，测试速度比普通基于主机的源测量方案快四倍。此外，每种仪器内置1个类似于PC的微处理器，支持各种简单或复杂的测试程序(脚本)的编程与独立执行，包括提供信号源、测量、测试序列流程控制以及带条件程序分支的判断操作等。2635和2636极易与其他仪器集成构成自动测试系统，因此对于从事圆片级测试和封装器件测试工作的元件制造商和半导体厂商都极具吸引力。同时，对于需要快速、方便地进行器件与材料I-V特征分析的各领域研究人员和学者而言，其低成本优势十分诱人。
