J-Scan除错编程工具升级版可对MPU芯片管脚进行观测控制

   来源:Macraigor Systems 公司    浏览:1508    

    Macraigor Systems LLC现已完成对J-Scan除错和编程工具的升级,新的除错和编程工具可使IC设计工程师完成对内置有32位和64位嵌入式微处理器芯片的每个管脚进行观测和控制。

    J-Scan 2.1版边界扫描工具通过一个与USB 1.1或USB 2.0兼容的接口与目标芯片进行通信,其检测速度比旧版边界扫描工具快10倍。J-Scan 2.1版还可通过串行外围接口闪存接口对装置进行编程,包括FPGA和其它嵌入器件。

    这家位于波士顿的公司称,J-Scan工具可使设计者得已实时观测采用BGA封装的芯片管脚的状态。该工具件还允许设计者手动设置管脚的逻辑状态。

    该公司首席工程师Craig Haller称,设计者现在可以利用J-Scan 2.1版边界扫描工具观测每个管脚上逻辑状态的变化及指令地址的传送和接收,从而加快用于新电路板设计方案的SoC和其它IC的调试过程。

 
  
  
  
 
更多>同类企业资讯
 
全年征稿 / 资讯合作
 
 
 
推荐图文
推荐企业资讯
点击排行