宜捷威新推出LD高温测试系统

   日期:2006-03-01     来源:中电网    
    Faztec Optronics宜捷威新推出之LD高温测试系统,此LD测试系统打破美国日本同业以高单价独占市场之传统,为采用IC BUTN-IN作法,烤箱内完全采用PCB和插座做为电流导通之介质,不采用易劣化之电线,且把高温炉和控制室整合在一个机箱内,所以外部除了电源线外,看不到多余之电线,整个系统在外观上非常简洁,并采用触控屏幕做为人机界面,操作简单易懂。

    该公司行销部门高达人经理指出FLT-704为LD驱动电流0~200mA与PIN-TIA驱动电压0~10V,可由人机界面设定,每个Channel最高驱动电流为200mA。而此系统最大的特色是LD系统共有24个测试盘,并分成四组,即每盘64颗LD,每组6盘,PIN-TIA系统也有24个测试盘,分成二组,即每盘64颗PIN-TIA,每组12盘,两者皆可独立由触控屏幕上设定烧测电流值与电压值。LD在烧测时,TO-Can内的PD可同以5~25V的电压,提供逆偏BURN-IN与 PD之逆偏电压,二个OVEN也可独立设定测温度,温度范围R.T.~150℃,烧测时间为0~9999.9小时,同时实际烧测时间也会示在触控屏幕上,当烧测时间结束时,系统会自动OFF电流、电压、温度,即本系统具有定时功能。且LD的脚位由驱动电路板上的跳接线选择。

    宜捷威科技为亚洲少数专注于光通讯量测的仪器供货商,由量测仪器整合起家的宜捷威,采代理与自行开发产品双主轴策略,宜捷威系技术、行销并重,且西进欧盟广大市场,东扫日本竞争市场,并于国内武汉地区设立据点,抢进成为通讯测试品牌权威。目前Faztec Optronics 宜捷威之FLT-704 LD高温测试系统已成为光通讯大厂华工正源、飞通、SAE等厂商之基本配属设备。  
 
  
  
  
  
 
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