Seica展出最新设备M4飞针测试机

   日期:2006-01-11     来源:中国测控网    

     Seica在2006年1月份的印度展览会上展出公司最新设备—M4飞针测试机,该设备的出现立即引起了业内人士的关注。

  该产品为需要进行原型测试、模拟测试、功能测试后的故障诊断等各类测试的客户提供了高性价比的解决方案,该系统基于 VIVA Integrated Platform(VIP),不但集成了核心VIP软硬件,而且与Seica家族的其他产品(PILOT Flying Probe, STRATEGY In-circuit 和 VALID Functional等测试机)完全兼容。

  AERIAL M4使用了四个完全独立的、可移动的测试探针,同时在两面进行测试(每面两个探针)。系统采用的垂直板箝位系统,在测试的时候消除了板的振动,使AERIAL的测试更加紧凑,更容易适应各种工作环境。即使系统非常的紧凑,AERIAL M4提供高达420 mm x 610 mm的测试面积,而在L4版本测试面积更提高到610 mm x 610 mm。

 
  
  
  
  
 
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