Teradyne日前宣布了用于其FLEX平台与Cadence Design Systems公司Encounter Test之间的测试与产量诊断信息的有效流程。
运行于IG-XL软件系统的Teradyne的测试系统,现在可支持按照工业标准的STIL或WGL格式以及EncounterDiagnostics CPP格式进行Encounter True-Time Delay测试。该流程的有效性确保了向寻求提高质量和设备产量的用户提供理想和有效途径。
Teradyne称纳米设备的有效测试要求ATE系统和自动测试模式生成器(ATPG)之间成熟的衔接。有效的流程确保了测试程序首次即能提供正确的功能,并探测到当今纳米设备普遍存在的微小延迟。