半导体测试系统全球领导商爱德万测试株式会社 (Advantest Corporation)（纽约证券交易所代码：ATE 和东京证券交易所代码：6857）今日推出其 T6171 CMOS（互补型金属氧化物半导体）图像传感器测试系统。为应对用于数码相机和拍照手机的 CMOS 图像传感器日益增长的需求，爱德万测试对这种新系统进行了优化以便同时对8个器件进行高速测试。T6171 本周在日本国际半导体设备年度展 (SEMICON Japan)（12月1日至3日在日本Makuhari Messe 举行）上推出。
对于体积小、耗能低的 CMOS 图像传感器的需求量每年都在增长。近来技术创新也为开发能够以每秒几百帧的速度捕获无缝视频画面的高灵敏度传感器提供了良机。人们对于数码单镜反光相机、高分辨率数码相机以及工业机器人和汽车车载安全监控系统等更具前景的应用的期望颇高。
另一方面，传感器的价格一直随着其应用的增加速度而下跌，这使得低成本的产品测试解决方案十分必要。目前，为降低每个传感器内设元件量所做的努力已产生结合了图像处理与模拟转换电路元件的传感器。因此，以这些整合功能进行更高效测试的解决方案已具有一定的需求量。
爱德万测试的新型 T6171 具有高速、125Mhz（多管脚模式为 250Mhz）数字测试模块，这种模块可配备高达256通道。T6171 不仅支持目前性能最强的 CMOS 图像传感器的高速图像传输功能，而且能增加与整合电路（如高速 A/D 转换器和 DSP）有关的器件管脚量。T6171 还可以配备4个高速图像传感器，从而具备了同时测试高达8个器件的能力。
此外，T6171 系统能提高可选择模拟图像捕捉功能，该功能支持 80Mhz 的最大测试频率并可配备高达8个通道。T6171 的模拟输出为支持用于普通数码单镜反光相机的 CMOS 图像传感器的测试增加了灵活性。
T6171 配备了最高达6400万像素的高速 (16 bit. 80Mbs) 图像捕捉存储器，可支持具有增强型像素数的 CMOS 图像传感器。这使得 T6171 能够快速地读出数字视频等动态图像和高品质数据密集型静态图像的数据。这些6400万像素的存储器也可通过测试它们最小的总像素数来对设备进行测试。
文章来源：美通社
