NI在Intel开发者论坛上预先展示了首个基于PCI Express的测试测量产品

   来源:中国测控网    浏览:74    

NI今天在Intel开发者论坛(Intel Developer Forum (IDF))上预先展示了全新的PCI Express-GPIB(通用接口总线)控制板卡。Intel开发者论坛是软硬件开发商们共同参与的一次行业盛会。PCI Express总线已为越来越多的用户接受,而NI推出的PCI Express-GPIB是测试测量领域中首个基于该总线的插入式产品,PCI Express-GPIB使工程师们利用最新的PC总线技术通过GPIB来控制仪器。
“20多年来,NI作为测试测量行业的领军人物,致力于将最新的PC技术带给测试和设计工程师。”NI研发部高级副总裁Tim Dehne说道,“随着PCI Express的应用日益广泛,NI将提供基于PC的测量产品,这些产品利用PC技术的强大性能配合虚拟仪器技术可以完成更多更新的应用。”
PCI Express是高性能、低电压、差分、点到点的串口连接,它通过提供可扩展的总线带宽改进PCI技术。例如,最简单的x1 PCI Express接口提供3倍以上的PCI总线带宽,而x16 PCI Express接口可以提供20倍以上的带宽。PCI Express的显著特点是其分层的模型,能在运行系统的级别上为现有的PCI应用带来向下的兼容性。此外,PCI Express为用户提供了非常必需的特性,例如为数据采集应用准备了足够的带宽,等等。
请访问[URL=http://digital.ni.com/express.nsf/byCODe/exd7hj]http://digital.ni.com/express.nsf/bycode/exd7hj[/URL],获取更多关于PCI Express的信息。

 
  
  
  
 
更多>同类企业资讯
 
全年征稿 / 资讯合作
 
 
 
推荐图文
推荐企业资讯
点击排行