安捷伦新LTE-A量测软体具单键式量测功能

 安捷伦(Agilent)新版的Agilent X系列量测应用软体，提供符合第三代夥伴计划第十一版标准(3GPP Release11)的多元射频(RF)相符性测试功能，方便工程师对进阶长程演进计划(LTE-Advanced)分频双工(FDD)和分时多工(TDD)发射器与元件进行全面测试。该软体亦适用于桌上型和模组化产品。

台湾安捷伦电子量测事业群总经理张志铭表示，客户须倚赖新型解决方案来执行LTE-Advanced发射器和元件的验证制造。这套嵌入式量测应用软体建构于安捷伦无线相符性量测技术，可全面支援3GPP Release11规格，确保客户在执行LTE-Advanced无线测试时，能获得更深入的洞察力和信心。

新的LTE-Advanced量测应用软体，让X系列和模组化讯号分析仪能利用单键式量测功能快速进行测试。新版软体还提供更快的量测速度、可程式化仪器标准指令集(SCPI)程控能力、通过/不通过测试，及简单的操作方式，是设计验证和制造应用的理想选择。

X系列量测应用软体所支援的特定量测项目，包括发射器输出功率特性和传输讯号品质量测，并可量测基地台和用户设备的干扰发射讯号。