今年GE检测科技推出了新型phoenix v|tome|x m。v|tome|x m是业内首个用于3D测量和故障分析的紧凑型300kV计算机断层扫描系统，具有<1 微米的细节分辨力。
该系统可为高吸收性金属样品提供出色的放大倍数和分辨率。管功率最高可达500W，可在几分钟内，完成包括轻金属铸件在内的多种工件的检验。可选的双管配置可通过高分辨率nanoCT®实现低吸收性样品的检测。新系统功能的多样性使其适用于各种应用，包括材料科学、工业故障分析、过程控制及3D测量，涉及工业领域广泛，从铸件和电子器件到塑料、地质和航空叶片的检测等。
正如 GE phoenix射线检测产品线的CT产品经理，Oliver Brunke所说：“新型CT系统丰富了我们的v|tome|x产品系列，首次在紧凑型实验室系统内引入了我们独有的300kV/500W微焦点X射线管，补充了我们的大型步入式v|tome|x L 型号和紧凑式v|tome|x s 型号。phoenix v|tome|x m的所有硬件和软件核心组件均采用自有技术，包括GE的高分辨率X射线管技术和恒温数字式DXR X射线探测器，可提供优秀的图像质量。”
GE新型的CT系统最大可测500 x 600mm规模的试件，最大可视直径300mm，最大高度达400mm，最大重量达50kg。系统具有花岗岩基座操作台和温控铅柜，可实现极高的测量精度和可重复性，同时配备了phoenix 工业CT软件datos|x 2.0，使用该软件的click & measure|CT功能，可实现完全自动化的数据采集、体积处理和显示。使用系统的velo|CT功能，可在几分钟内获得3D重建结果。
系统的高放大倍率得益于GE的300kV微焦单极射线管设计，该射线管从焦点到X射线出射窗的最小工作距离仅为4.5mm左右。相比之下，传统双极射线管的最小工作距离较长，增加了焦点到目标物的距离，因此限制了放大倍率。对于特定高分辨率扫描，只需一键，即可选择180kV大功率纳米焦点射线管。
图像捕捉：
图1：GE功能强大的300kV phoenix v|tome|x m dual|tube CT系统
图2：使用计算机断层扫描进行3D风机叶片检验
关于GE检测控制技术
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