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J750Ex-HD 选配件可用于测试 MCU 内的所有元器件，包括：
高速数字 800 板卡 (HSD800)，提供数字功能和特性分析测试
内存测试选配件 (MTO)，用于嵌入式内存测试
数字信号发射和接收 (DSSC)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号
深度扫描历史 RAM (DSHRAM)，适用基于 DFT 的 SCAN 测试
高电压数字 (HVD) 功能，用于嵌入式快闪存储器测试
高密度芯片电源板卡 (HDDPS)，用于提供高性能精密控制的芯片电源
高密度 VI源板卡 (HDVIS)，用于高工位数测试，以及利用测试向量进行测量时间点的精确控制
混合信号选配件 (MSO)，用于嵌入式模拟元器件的音频测试
高密度转换器测试选配件 (HDCTO)，用于测试嵌入式 ADC/DAC 转换器
高密度模拟引脚测量单元 (HDAPMU)，用于混合信号测试
J750 – LitePoint RF 测试系统
J750 系统还可搭配 LitePoint 板卡选配件，形成经济高效且完整的量产测试解决方案，适用于全球各无线连接标准。 随着 Bluetooth® 等嵌入式 RF 元器件在微控制器和其他独立的无线 SoC 设备中的普及，J750 扩展了测试的应用范围，继续实现更卓越的成本效率和更快的上市时间。 工程师可利用相同的 LitePoint 板卡进行最初的Bench设计和后续的模块测试，新产品上市的总工作量和时间得到了显著改进。
作为所有 J750 型号(J750、Ex、HD)的升级版本，J750-LitePoint 充分利用了 IG-XL 的开发和调试能力，并集成了 LitePoint RF 工具套件和调制库。 J750-LitePoint 为高吞吐量 RF 信号处理提供了专用的板载仪器 DSP、一个丰富的无线软件库和一套全面的调试工具套件。
