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科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MVNA RF选件能提供先进的射频测试能力

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2006年7月11日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商--科利登系统有限公司 (Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码：CMOS)宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA™)射频测试选件。MVNA RF选件在测试无线电话，WLAN, WiMax以及Zigbee等器件上的能力，进一步扩展了Sapphire D系列的测试能力。
移动通信，移动计算机以及无线个人局域网的快速增长持续地给芯片供应商带来了紧迫的成本压力。当今无线应用采用了复杂度不断增加的单芯片以及系统级芯片（SiP），这些设计都要求测试仪能够进行高并行度测试，具有很好的灵活性和可扩展能力，以满足业界在测试成本和上市时间的要求。具有MVNA RF选件的Sapphire D-40测试平台可以很好的满足这些迫切的测试挑战，能提供四倍于当今市场上竞争机型的并行测试能力。
科利登系统有限公司首席执行官及总裁Dave Ranhoff说：”Sapphire D-40的MVNA RF选件结合了科利登最前沿的MVNA技术，极大地扩展了测试6GHz器件的并行测试能力。Sapphire D-40能提供16和32个端口的RF选件，使得客户能把传统的2site或4site的无线器件测试配置也应用到射频芯片的测试之中。”
科利登的MVNA RF选件源自于其被广泛使用的ASL 3000RF测试平台。MVNA RF结构集成了众多的专利技术，分布式信号处理，封装的测试算法库以及能提供足够的RF测试精度和极短的测试时间的高性能的前端电子部件等。MVNA RF

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