科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统

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科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统被Sun Microsystems公司采用来测试和验证其下一代多线程SPARC®处理器

  来自美国加州苗必达市Milpitas的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商--科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码CMOS)近日宣布Sun Microsystems公司(纳斯达克代码: SUNW)购买了配置D-6436Sapphire™ S自动测试设备。 D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC®的多线程微处理器芯片的开发。
 
当今市场有很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
       Sun Microsystems公司验证测试技术部副总裁Sridhar Vajapey说:“通过仔细地调研现有的自动测试系统,我们最终选择了科利登高度集成的解决方案。配置了D-6436设备的Sapphire测试系统为我们提供了一个引人注目,高性价比的6.4Gbps高速测试解决方案,它的通道密度是竞争机型的四倍。我们期待刚刚安装的Sapphire S测试系统能加速我们业界领先的多线程处理器芯片的调试。“
    
每套D-6436设备拥有36对差分通道,与当今市场上其它任何竞争产品相比,它具有最高的通道密度和最高的性价比。其中的4个通道还能配置为源同步时钟信号。该设备还拥有128Mbps的全深度捕获存储器,而且能进行多时钟域的操作。每个通道都支持嵌入时钟,源同步前向时钟和测试仪同步模式以满足不同芯片类型的需求。
       D-6436是科利登6.4Gbps系列产品的成员之一,用于高速的半导体芯片的测试,兼有最优的成本和性能优势。它们与Sapphire S

 
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