Multitest宣布WLCSP测试座的安装率稳步提高

   日期:2011-06-22     来源:EDN    评论:0    

  面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前欣然宣布WLCSP测试座的安装率正在稳步提高。中国大陆、中国台湾、新加坡及其他地区的分包商正在利用该测试座进行批量生产作业。这些测试座表现出卓越使用寿命性能,从而实现无与伦比的测试成本。

  过去两年中,Multitest一直在向客户交付WLCSP测试座;相对于过去数十年内一直交付适于单粒器件的测试座,这段时间是短暂的。在此期间,公司了解到其测试座在晶片级环境中的使用寿命比在封装测试环境中更长。

  虽然Multitest的Mercury探针在封装测试环境中已实现500k–700k次插拔的非凡使用寿命,但该探针在晶片级测试环境中可以实现1.5M–4M次插拔。这有助于Multitest的WLCSP测试座成为整体测试成本解决方案方面的业内领先公司。

 
  
  
  
  
 
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