由北京中科泛华测控技术有限公司（以下简称“泛华测控”）主办、美国国家仪器有限公司（以下简称“NI”）协办的“汽车电子测试技术专题研讨会（长春站）”于6月21日在长春花园酒店二楼水晶宴会厅举办。会议于当天下午圆满结束。
随着汽车电子技术在全球汽车工业中的广泛运用，我国汽车电子市场的发展空间也日趋广阔。泛华测控专注于汽车电子测试技术与产品开发，成功地为西门子、霍尼韦尔、二汽集团等知名企业提供了自动化的测试设备和解决方案。经过多年的发展，泛华测控在国内汽车电子测试技术领域已位居前列，其产品已具备与国外同类产品竞争的实力。此次选择国家汽车生产基地、国家整车及零部件出口平台的长春作为泛华测控“汽车电子测试技术专题研讨会”的第一站，有着极其重要的意义！
此次研讨会上，泛华测控开发工程师阚宏伟、任获荣以及销售主管景文义同来宾分享了泛华测控在汽车电子测试领域的先进技术和最新应用。其中特别介绍了：汽车电子测试解决方案、噪声源定位和模态分析、图像处理技术在汽车电子测试中的应用。另外，NI公司东北区域销售工程师刘春广介绍了NI软硬件在汽车电子测试中的应用情况、车载数据采集应用和汽车NVH测试分析。在研讨会现场还安排了系统演示，其中“汽车仪表盘测试系统” 吸引了众多来宾的关注。据悉，泛华测控“汽车电子测试技术”专题下一站的研讨会正在筹划中。
（图：会议现场） （ 图：来宾对现场DEMO有浓厚的兴趣）
