教育部科技发展中心网2006年11月13日报道美国Argonne国家实验室的科学家和Xradia合作，创造了新的X射线显微成像方法，这种方法可以观测分子水平的结构，测量小于一纳米的长度。
通过将X射线反射和高分辨率X射线显微成像法相结合，科学家能研究纳米级别结构之间的相互作用，纳米级别物质常表现出不同的性质。更好的理解纳米结构的相互作用可以帮助我们治疗疾病，保护环境，使我们生活更加安全。
以上新技术能帮助我们更多了解表面分界反应，例如吸收，腐蚀，催化反应等。特别的，这一方法能扩展X射线的能力，可以实时的直接的观测小于纳米尺度的表面性质。并且它是非侵入性的，可望用于地形学的扫描成像，而不用探针尖端非常靠近表面。
Argonne实验室和Xradia的科学家们组成了一个专门研究X射线光学和X射线显微成像系统的小组，他们利用相衬原理实现了小于纳米尺度的成像。这一突破借鉴了之前用于电子显微镜的技术，能直接观察固体表面的各种变化。
Argonne实验室的物理学家PaulFenter表示：“能够看到一个纳米级别的结构对于X射线显微技术是一个重要的基准。理解界面反应对于科学技术的诸多方面都是有着重要意义的，从金属的腐蚀到环境污染。”而Xradia的SteveWang补充道：“这一技术使我们可以直接看到这些过程，为我们提供从根本上了解它们的机会。”小组还会继续他们的研究工作。
