安捷伦携手Xilinx和Microchip推进全面数字技术测试解决方案

   日期:2006-09-27     来源:中国测控网    评论:0    

    安捷伦科技近日在北京举办了本年度安捷伦数字测量论坛(ADMF)。在本届论坛期间,安捷伦再次携手Xilinx和Microchip两大合作伙伴,共同推进从消费电子领域到高速数字设计领域全面数字技术测试解决方案。

    此次论坛主题围绕“全面的数字技术测试解决方案汇聚在ADMF”进行展开,通过多达14场的专题技术研讨会和产品亲身体验等活动,为电子设计工程师、系统设计师和技术管理人员介绍当前的技术热点和最新的电子技术发展趋势以及安捷伦所提供的相应的测量技术和调试方法,帮助企业提升竞争力。

    此次论坛主题围绕着数字设计的发展趋势及相应的测量和调试工具,分别从主流数字技术和高速数字技术两大方面展开介绍。其中“主流数字技术”就嵌入式系统的快速调试方法,最新的针对FPGA设计的验证方案,从有线USB到无线USB的发展及测试方案,用于汽车电子领域的串行总线技术和最新测量手段,软件无线电的发展及相应的测试手段等展开讨论。“高速数字技术”就抖动的成因及分析方法,高速收发器的抖动容限分析,信号完整性的仿真和验证,测试系统本身的信号完整性对测量的影响,最新的高速存储器的调试技术,最新的高速互连技术等专题展开讨论。

 
  
  
  
  
 
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