为了节省开支，半导体生产商正在尽可能地缩减测量和检测设备的购买量。美国市场调研公司The Information Network的一份报告指出，2006年半导体设备市场中，测试测量设备行情不佳。
该报告指出，相比于整个半导体产品市场15.8％的总体增长率，流程控制和测量设备市场的增长将只有9.6％。而由于半导体生产商试图缩减资本开支，晶片的样片在2006年有所降低。
The Information Network.公司总裁Robert Castellano说：“随着性能的改进，如今测量和检测工具每小时可以处理超过130片晶片。测量速度的加快，减少了所需的测试设备，从而既节省了开支，又节省了净室空间。现有测量设备的优越性能使产品检测系统几近完美。”
这些分析人员指出，流程控制产品市场领域唯一的亮点就是宏观缺陷检测设备。尽管2005年整个测量和检测设备市场下降了1.5％，整个前端设备市场也下降了9.5％，宏观缺陷检测设备的市场却增长了63％。Vendor August Technology公司占据此市场32％的份额，而其与Rudolph合并后组成的新公司所占总份额则达到了44％。但是对于整个行业来说，宏观缺陷检测设备的生产商太多了，因此在整个测量和检测设备市场中只增长了3.3％。
Castellano说：“半导体制造商也在为了薄膜测量的独立设备而不再购买集成测量工具。这使得他们只需对晶片的某些部分进行采样就足够了。”
