芬兰METSO研制出新型厚度扫描传感器

   日期:2006-04-14     来源:中国仪器仪表信息网    评论:0    

    芬兰METSO自动化公司最新推出一款新型厚度扫描传感器—IQCaliper-L。该产品已为该公司赢得了2005年芬兰ATIP发明银奖。

    IQCaliper-L采用精确的无接触光学传感技术,是目前唯一的一种把近代的光学技术与传统的磁阻技术融为一体的厚度扫描传感器。由于采用了同样精确的磁阻技术,扫描过程中产生的机械偏差不会影响光学测量精度。

    通过实验表明,这种传感器的测量结果与传统磁阻扫描传感器、离线实验剖面测量和标准工业实验室测量设备结构相符。采用这种传感器所提供的精确可靠的剖面测量,可用于控制纸张厚度的均匀性并确保大纸卷和复卷纸卷结构的合理性。

 
  
  
  
  
 
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