国产X荧光分析仪问世 可高效检测有害元素

   日期:2006-04-13     来源:深圳商报    评论:0    

    国产X荧光分析仪问世,可高效检测有害元素轻松应对欧盟新指令

    一种神奇仪器将在今日开幕的“中国电子第一展”上亮相。随着欧盟ROHS&WEEE指令7月1日正式执行,越来越多的中国企业迫切需要一种低成本、高效率的有害元素检测设备。由北京邦鑫伟业自主研发的X荧光分析仪则及时填补市场空白,为出口企业安上“火眼金睛”。

    根据欧盟ROHS&WEEE指令要求,我国出口产品中不能出现铬、铅、汞、镉、溴超标。X射线荧光分析技术作为常规分析手段,开始于上个世纪50年代,现在已经成为物质组成分析的必备方法之一。邦鑫伟业的“神奇仪器”实现了小型化和节能目标,无需对样品进行特别的化学物理处理,特别适用于生产企业作为过程控制和检测使用。

    在邦鑫伟业的研发成果问世之前,相关分析技术一直被美、英、德、荷、日五国垄断。这种技术目前不仅是地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的快速、准确而经济的多元素分析方法。

 
  
  
  
  
 
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