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测控要闻
泛华测控获NIDAYS最佳DEMO奖
日期:2005-12-12 来源:中国测控网信息中心
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全球瞩目的
NI
DAYS2005全球
虚拟仪器
盛会中,北京中科泛华测控技术有限公司的Demo系统产品演示—电路板测试系统,经过评选获得了NI公司授予的“NIDAYS2005EXCELLENCE”的最佳DEMO奖。 该奖项的评选全部由当天参会的客户投票,电路板测试系统获得100张选票以上成为北京虚拟仪器盛会最受客户欢迎的系统演示产品。 当今IC电子设计飞速发展,与之相关的产品测试系统就显得更加重要。此演示系统是由作为NI系统联盟商的北京中科泛华测控技术有限公司自主研发的,系统具有很高的参考价值并且也具有很高的实用价值。今后公司将在IC电子设计的相关
测试测量
系统领域作进一步拓展。
标签:
虚拟仪器,
测控技术,
电路板测试系统
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