我国成功研制出新HLA基因分型芯片监测系统，该系统由清华大学承担，目前已通过了教育部科技发展中心组织的专家鉴定。
该技术的研发基础是基于良好的片基、独特的样品制备技术、四个专业设计（独特的探针设计、点阵设计、长期积累的杂交经验、专利化盖片设计）以及自主研发的分析软件，利用项目设计的方法学优势和全方位质量控制来进行快速、准确分型。同时利用该技术可一次性同时检测大量样品，实现高通量检测，每张芯片可印制数百至数千份样品，从而体现了芯片的技术优势。
据悉，该项目通过对上千份样品的盲测实验证明,芯片系统的分型准确率已达99.8%以上。而且，其每张芯片最多可以对上万份样品进行分析，是目前通量最高的基因分型方法。
