IC测试设备市场低迷 比去年衰退20%

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   市场调查机构Garner Dataquest最新报告显示,尽管该机构3个月前还看好2005年全球自动化测试设备(automatic test equipment;ATE)市场将微幅增长3.1%,远比整体半导体设备市场来得好,然终端市场能见度不佳,厂商纷纷转而看坏2005年营收增长,因而预估2005年全球IC测试设备市场恐将乌云笼罩,比2004年衰退20%。

  分析师Laurie Balch指出,自动化测试设备供应商对于市场前景大幅度转向悲观,也促使该机构大幅下修原先预估值,只能说ATE市场转变实在太快,原先估计2005年全球自动化测试设备市场规模可达到49.4亿美元,如今已下修至38亿美元规模。 
 
  不过,并非所有市场区隔均一致性地被看坏,2005年内存测试设备产值估计仍将增长到14亿美元规模,此外,其他市场区隔包括单芯片(SOC)测试设备、LCD驱动IC测试设备等部份,仍可望浮出水面。不过,设备商表示,客户订购趋向保守,甚至将订单递延到2006年,让设备商更显得焦虑。

  Balch表示,目前设备商已承受必须降价的压力,尽管目前ATE均价跌幅并未太过剧烈,但在买家缩手、设备商看淡压力下,自动化测试设备平均价格恐将进一步下跌。 
 
  
  
  
 
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