一、位移及角度量测
1. 纳米精密激光干涉仪长度量测系统可应用于单轴或多轴平台,如显微镜或机台定位系统;
2. 精密机械及量床校正;
3. 角度量测、变形研究;
4. 纳米量测研究和开发;
5. 同时量测位移及角度;
6. 非接触表面轮廓量测。
2. 精密机械及量床校正;
3. 角度量测、变形研究;
4. 纳米量测研究和开发;
5. 同时量测位移及角度;
6. 非接触表面轮廓量测。
二、振动分析
1. 高精密振动分析及纳米量测系统;
2. 非接触任意表面振动分析量测;
3. 量测微小物体之共振频率。
2. 非接触任意表面振动分析量测;
3. 量测微小物体之共振频率。
三、量测及定位系统
1. 大范围纳米量测及定位系统;
2. 纳米测头、块规校正系统。
2. 纳米测头、块规校正系统。
四、干涉式微量天平
1.快速、高精度微量称重;
2.包装生产线、填充生产线、有爆炸危险的场合。
2.包装生产线、填充生产线、有爆炸危险的场合。