吉时利仪器公司（NYSE:KEI）是为不断增长的测量需求提供解决方案的市场领导者，最近发布了用于半导体生产过程中参数生产过程控制测试的第三代圆片晶圆射频(RF)测量功能力。对于吉时利公司第三代射频(RF)参数测量系统RF选件解决方案（是一个选配件），我们感到陌生的是其下列独特的能力其独特的新内容是：能提供连续、自动、实时的测试量质量监控，在提供最高优等超等质量结果的同时，也获得了最高测量信息吞吐产能通过率量、最低运行成本，以及用最简捷的方法使用任何竞争对手的产品易于使用的特点。此外，吉时利公司的射频(RF)参数测量系统选项RF选件测量功能力（系统）是目前唯一个在全球范围内获得验证的半导体参数测试系统，适合于世界范围内200mm和300mm晶圆的制造工厂的半导体参数射频(RF)测试系统生产实验室进行应用参数工艺控制的测试系统，这些应适用于用包括高性能逻辑电路生产和高性能模拟集成电路生产。
