2014年4月10日测试测量技术研讨会
主办单位：电子发烧友
会议时间：2014年4月10日 13:30-17:30(星期四)
会议地点：深圳市福田区华强北华强集团二号楼7楼
会议简介
随着我国4G牌照即将下发，市场上有关TD-LTE的试商用已经如火如荼地开展起来。伴随着TD-LTE市场应用的不断发展，测试需求也在不断增加，测试仪表 和测试系统作为TD-LTE产业链的重要组成部分，对于产品的性能、研发和产业化起到了关键的推动作用，特别是在有关终端测试的多模功能一体化测试系统、 高速数据业务仿真测试系统、多网络共存条件下的网络优化工具等方面，TD-LTE提出了更高、更迫切的需求。测试仪表和系统厂商只有紧跟产业发展的脚步， 及时开发出相应的产品，才能抢占市场先机。
毫无疑问，人们对电子产品的质量要求越来越高，测试测量技术面临严峻挑战。传统的模拟和数字示波器遇到众多瓶颈，如垂直灵敏度和精度、触发抖动、频谱分析速度、动态范围以及隔离度等。此外，模块化的测量测试系统、便携式测量解决方案也开始抢占市场。工程师也越来越需要更好的调试与分析工具，它是覆盖了时域、频域、调制域等多个领域的测量与分析整体解决方案。
像这种测试测量产业新机会还很多，需要我们充分挖掘。
有鉴于此，电子发烧友网广邀行业领袖、市场分析人士、权威技术专家、优质企业代表，为您深度解读最新测试测量技术发展趋势以及创新方案等热点话。
会议亮点
• 与行业领袖共同探讨测试测量技术的难点及最新应用方向;
• 测试测量领域知名企业解读最新解决方案，并分析技术发展和市场前景;
• 更专业，帮您获得更多交流。超过200多位资深工程师与会;
• 更精准，助您把握更多商机。定向邀请测试测量重点应用企业管理人员;
• 更宽广，为您拓宽销售渠道。与现场采购与市场人员沟通需求与合作，为您捕捉更多市场机会。
会议议程
【赞助厂商】
Litepoint、安立、安捷伦科技与是德科技、泰克、罗德与施瓦茨
