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半导体照明中的性能测试测量技术探讨(Labsphere)

日期：2015-08-03 大小：1.67M

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此技术白皮书为Labsphere蓝菲光学公司亚太区应用技术经理于立民博士在2010 LED前瞻技术与创新产品设计(广州)研讨会的演讲PPT,题目为：“半导体照明中的性能测试测量技术探讨”

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