单片机测控系统的抗干扰对策

我们在多项测控项目的实践中体会到，干扰源主要来自三个方面。一是空间场干扰，通过电磁辐射富入系统：二是电源干扰，它直接侵害系统：三是信号通道干扰，通过与单片机相连的前、后向通道进入系统。