介绍：
工程师面临的关键测试挑战之一是能够采集和监测不同的信号和协议。设计工程师必需能够生成各种信号，测试被测设备(DUT)的极限，确定设计在实际环境中的行为结果。他们需要测试解决方案能够捕获及可视化复现这些信号，以检验信号完整性。他们需要在一条总线上多个数字信号之间的精密定时信息，调试建立时间和保持时间违规。在许多情况下，在硬件工程师和软件工程师合作调试某个问题的根本原因时，他们要求能够查看总线上的信息，不仅包括电气表示，还要包括较高的提取等级，如微处理器的汇编码代码或串行总线协议的解码图。
许多设计由大量的硬件组件执行特定任务，这些任务可能位于电路板的不同部分。为保证组件之间正确交互，嵌入式工程师需有对DUT(被测设备)系统级的视角。挑战是保证组件操作同步，这意味着测试设备必需能够提供与定时性能有关的准确信息，同时创建更高级的提取和分析功能。
在开发过程中的许多情况下，并不是所有组件都可供测试，因此必需“复现”或仿真没有组件的信号，去测试设备的整体运行情况。如果信号有复杂的波形，可以使用示波器采集一次信号，然后使用任意波形发生器复现信号。在其它情况下，需有意在输入信号中包含抖动、噪声或其它异常事件对组件进行极限测试，确定其处理损伤输入信号的能力。任意波形/函数发生器和任意波形发生器是生成这些信号使用的首选工具。
把探头连接到DUT 提出了另一个挑战。设备物理尺寸小、电路板上需要测试的点数量多及任何探头都会增加电容负载、改变DUT 的运行特点，这一切因素都提高了探测挑战。探测解决方案必需设计成使电容负载达到最小，工程师可以更简便地连接到DUT，同样要能够迅速确定哪只探头(或探头引线)与测试仪器屏幕上的哪条曲线相关联。
本入门手册介绍嵌入式系统的各个单元及其带来的测试挑战，以及相关解决方案。
