网络分析仪

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 网络分析仪是一种测量设备的网络参数的一种测试测量的仪器,可以解决设备出现网络故障或者需要修正参数性能误差。

  

基础知识

              网络分析仪可通过双口和单口网络直接测量(有源或无源、可逆或不可逆)复数散射参数,并根据扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性,因为得到广泛的应用,特别是在网络故障检测和维护方面。它的误差修正的基础是通过测量如直通,负载,短路和开路等已知的标准件,分析并找出导致设备测量误差的那些系统误差参数,并通过一步一步的实验和参数校准在实际测量过程中作出修正。校准的方法有很多种,最常用的是响应校准,单端口校准和双端口校准等。

 

  自动网络分析仪能对测量结果逐点进行误差修正,并换算出其他几十种网络参数,如输入反射系数、输出反射系数、电压驻波比、阻抗(或导纳)、衰减(或增益)、相移和群延时等传输参数以及隔离度和定向度等。它本身自带了一个信号发生器,可以对一个频段进行频率扫描.如果是单端口测量的话,将激励信号加在端口上,通过测量反射回来信号的幅度和相位,就可以判断出阻抗或者反射情况.而对于双端口测量,还可以测量传输参数.由于受分布参数等影响明显,所以使用之前必须进行校准.

网络分析仪原理

  一个任意多端口网络的各端口终端均匹配时,由第n个端口输入的入射行波an将散射到其余一切端口并发射出去。

  (1)若第m个端口的出射行波为bm,则n口与m口之间的散射参数Smn=bm/an。一个双口网络共有四个散射参数S11、S21、S12和S22。

  (2)当两个终端均匹配时,S11和S22就分别是端口1和2的反射系数,S21是由1口至2口的传输系数,S12则是反方向的传输系数。

  (3)当某一端口m终端失配时,由终端反射回来的行波又重新进入m口。这可以等效地看成是m口仍是匹配的,但有一个行波am入射到m口。

  (4)这样,在任意情况下都可以列出各口等效入射、出射行波与散射参数之间关系的联立方程组。

  (5)据此可以解出网络的一切特性参数,如终端失配时的输入端反射系数、电压驻波比、输入阻抗以及各种正向反向传输系数等。

 网络分析仪种类

  网络分析仪可以分为标量(只包含幅度信息)和矢量(包含幅度和相位信息)两种分析仪。随着技术的进步,集成度和计算效率的提高,成本的降低,使用越来越普及。

  (1)标量分析仪可快速测量RF产品的增益、衰减、频响和回波损耗。是广播电视、通讯领域必备的仪器。两个独立的通道可以同时进行传输和反射测量。曾一度因其结构简单,成本低廉而广泛使用。

  (2)矢量分析仪是由扫频信号源,检测器和接收机三大部分组成并在内部微处理器控制下运行的自动测试仪器,可以提供更好的误差校正和更复杂的测量能力。

网络分析仪功能

  在测试过程中,我们将其以在线方式接入测试网络中,设备立刻开始进行设备搜寻,并很快在屏幕上显示所找到十多个不同设备的名称、类型以及IP地址等重要信息。

  (1)频标:多种频标方式,方便测量读数;

  (2)归一化:传输/反射测量时,消除系统误差;

  (3)存储/调用:存储最常用的仪器设置;

  (4)打印:标准并行输出接口,可将测试曲线及频标点的数据打印输出;

  (5)平滑:消除信号迹线上的噪声和调节扫描速度。

网络分析仪发展

  (1)在60年代中期,四端口微波反射计的基础上网络分析仪研制成功并得到迅速的发展,利用计算机按一定误差模型在每一频率点上修正由定向耦合器的定向性不完善、失配和窜漏等而引起的误差,从而使测量精确度大为提高,可达到计量室中最精密的测量线技术的测量精确度,而测量速度提高数十倍,基本上可以现实自动化检测。

  (2)到了1973年,六端口网络分析仪面世,它的性能和计算能力相对四端口而言是一次大的飞跃,从而是测量系统的硬件结构得到简化。它有超过必需数目的冗余测量端口,可以利用冗余数据之间互相核对来提高测量结果的可信性,并大大提高了测量的精度。

  (3)直到20世纪80年代早期第一台现代独立台式分析仪才诞生。在此之前,它的身形庞大复杂,由众多仪器和外部器件组合而成,且功能受限。

  (4)随着业界第一款PXI网络分析仪—NIPXIe-5630的推出,你完全可以摆脱高成本和大占地面积的束缚,轻松地将其应用于设计验证和产线测试。

  网络分析仪解决了网络上的一个又一个测试难题,让测试测量更具体可观,让网络运行更顺畅无阻,对设备的搜寻和查找可以有着更好的工作效果。并可以自动搜寻并显示网络中接入的设备名称、IP地址、MAC地址以及各自占用的数据流量,为网络管理和故障诊断提供重要的参考信息。

  在分析同时解决问题给电路设计提供了极大的方便,已广泛在研发和生产中大量使用,网络分析仪应用于分析各种不同部件,材料,电路,设备和系统。无论是在研发阶段为了优化模拟电路的设计,还是为了调试检测电子元器件,它已经成为一种不可缺少的测量仪器。

 

 

 

 

 
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