技术中心
 
 
 
关键词
         
 
 
 

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

集成电路测试(IC测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的...
2014-08-19