电子系统的静电放电（ESD）鲁棒性性能测试通常采用IEC 61000-4-2作为标准。这个标准定义了每个电压等级下的冲击电流波形、如何校准ESD脉冲源、用于...

随着未来3G手机的高分辨率显示器和相机等多媒体应用需求的增长，设计人员将逐渐从现时的并行TTL接口技术转向差分串行互联技术。

集成电路和计算机系统的发展对低功耗的要求越来越高。本文探讨了低功率电路和系统的发展趋势，分析了功耗产生的主要原因以及与