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场发射电子显微镜∑IGMA的相关介绍

   日期:2013-01-18     来源:中国测控网    

场发射电子显微镜∑IGMA

详细描述:

品牌:卡尔·蔡司 型号:∑IGMA

【总体描述】

采用先进的第三代GEMINI镜筒的∑IGMA场发射电子显微镜在处理所有材料方面有杰出表现。GEMINI镜筒因其操作简单,极低压成像和超稳定探测电流等优势得到广大用户的认可,同时可提供高分辨率的能谱分析和波谱分析.

∑IGMA可处理直径达250mm和高为145mm的试样,此外,理想的共面设计使得能谱分析(EDS)和背散射电子分析(EBSD)同时使用。

【技术参数】

分辨率: 1.3nm@ 20KV 1.5nm@ 15KV 2.8nm@ 1KV

放大倍数:12 – 1,000,000x

加速电压:0.1-30KV

探针电流:4 pA - 20 nA (4pA-40nA 可选)

样品室: 330 mm (φ) x 270 mm (h)

样品台: 5轴优中心全自动

X = 125 mm

Y = 125 mm

Z = 50mm

T = 0 - 90°

R = 360°连续旋转

系统控制:基于Windows XP 的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制

【产品应用】

扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。

 
标签: 电子显微镜
  
  
  
  
 
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