"我们已使用PXIExpress自动测试系统完成多个项
目，并获得非常满意的效果。自动测试系统大大减少了芯片测
试的时间，而其快速、准确的直流测试更是实验室的宝贵财富。"
-MarioKonijnenburg,HolstCentre/imec
TheChallenge:
创建灵活的测试系统用于自动验证和表征新的超低功耗半导体芯片设计。
TheSolution:
使用NILabVIEW软件和NIPXIExpress高速数字I/O设备开发自动测试系统，前者读取测试向量，后者产生和接收数字数
PXIExpress测试仪器与实验芯片相连据，并同时以很高的精度测量芯片设计的直流损耗。
PXI Express测试 仪器与实验芯片相连 接的测试平台
我们在对一个新的存 储芯片设计进行实验 时，使用PXI- 4071测量和记录 在内存写（第一个倾 斜）和内存读（第二 个倾斜）操作时的 μA级电流。
这是主要的结构测试 程序。包含二进制测 试和仿真向量的多 个.csv文件可以 被加载并按顺序输 出。应用程序也可以 指出仿真数据与实际 采集的数字数据之间 的可能误差。
芯片上的无线系统
