数据采集卡随使用时间较长、环境温度变化、元器件老化、修理后等等因素的影响，其准确度指标会发生一定的变化（改变），使得实际测量值会偏离标称测量值，为了保证测量结果的可信度和一致性必须对它进行再次校准（产品出厂前都完成了外部校准，如果你需要来自NI的校准报告，必须在定货时声明，同时还要付一定的费用）。NI的绝大多数数据采集卡提供两种校准方式：自校准和外部校准。
自校准比较简单，无须任何设备支持，随时随地都可以在MAX中完成。
外部校准比较复杂，一般必须由专业机构来完成，所以要付一定的校准费用，目前上海计量检定测试院负责NI产品在中国的外部校准工作。当然，如果你有这个技术能力也可以自行实施外部校准过程，上一节中谈到的“NI9215CalibrationProcedure（NI9215校准过程）”就是为此提供的技术资讯。NI还提供了NICalibrationExecutive软件包用来自动校准所有NI的数据采集产品（还要有其它的外围校准设备支持）。
NICalibrationExecutive的主界面
自校准
自校准比较简单，无须任何设备支持，不要任何的外部连接就可以进行，随时随地都可以在MAX中完成自校准。
这个校准过程是：自校准时数据采集卡内部自动连接到一个已知的参考电压（板载的内部电压基准源）到板卡的各个通道上。然后，在不同增益设置的情况下，读取参考电压值并和期望值进行比较。最后，将校准系数存储在EEPROM内存中，作为对增益放大器或ADC中模拟电路的漂移进行补偿。
然而，必须注意到，自校准的精度仅仅取决于板上参考电压的精度。由于参考电压会随着时间发生轻微的漂移，所以定期进行外部校准仍然是非常重要的。
C系列模块不支持自校准。
PCI-6014的自校准和校准资讯
自校准或校准前，建议预热15分钟。
校准周期：1年
板载电压基准：5.000V
电压基准温度系数：＋、－5ppm/度
电压基准长期稳定性：＋、－15ppm/千小时的平方根
自校准过程非常有用，比如：
1、在实验室条件下，可以一个季度自校准一次，以改进元器件随时间漂移所带来的影响（不是板上电压基准的漂移影响）。
2、如果板卡的工作环境的温度发生了改变，如从实验室移到现场使用，使环境温度发生了很大的变化，这样就可以在现场的环境下，进行一次自校准，以适应新的环境状态。然后，回到实验室后再进行一次自校准，重新适应实验室的环境状态。因为部件的性能与工作环境的温度有很大关系，自校准能够补偿工作环境的温度剧烈变化所带来的影响。
NIUSB-6211自校准实例
在MAX中选择自校准如例图
选择上例中的“自校准”后，系统提示是否要进行自校准，并告知断开输入端的连接线等。点击[下一步]开始自校准。
自校准进行时......
自校准完成
在MAX切换下面的Tab页，可以看到自校准前后的信息。
校准（外部）
由于板载电压基准会随着时间发生轻微的漂移，所以定期进行外部校准仍然是非常重要的。
外部校准是一个非常复杂的校准过程，它需要一个高精度的电压源。当进行外部校准时，EEPROM里面的校准常数被擦写为新的值。当您需要进行高精度测量时，NationalInstruments推荐您每1–2年进行一次外部校准（根据板卡不同有区别，M系列板卡的校准周期是2年），因为ADC会随着时间而漂移。
由于外部校准比较复杂，一般必须由专业机构来完成（目前我院也可以开展板卡的校准工作），所以要付一定的校准费用，下面是几种板卡的校准收费标准（NI的收费标准）。
NI的校准数据纪录
