应用:
检测垂直轴上的晶片
描述:
The MINI-BEAM Expert diffuse sensor, with its MINI-BEAM专家型漫反射传感器,可见红光,可以检测镜面物体的位置,自教模式可编程可以在目标物和传感器间指定一个很小的范围,一致于可以再一个不确定的位置检测高污染的晶片.
技术中心
日期：2007-11-20
来源：美国邦纳工程国际有限公司上海代表处 作者：管理员 应用:
检测垂直轴上的晶片
描述:
The MINI-BEAM Expert diffuse sensor, with its MINI-BEAM专家型漫反射传感器,可见红光,可以检测镜面物体的位置,自教模式可编程可以在目标物和传感器间指定一个很小的范围,一致于可以再一个不确定的位置检测高污染的晶片.
