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2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在京举行

   日期:2006-03-24     作者:管理员    
  2006年1月7日,由北京中科泛华测控技术有限公司主办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在北京九华山庄胜利举行。此次研讨会以现代测控系统技术应用为核心,结合美国国家仪器有限公司(NI)的虚拟仪器产品的热点应用与系统集成案例,由泛华、NI和其他应用方案提供商的专家向来自各行业的测控应用工程师们介绍了虚拟仪器系统的主流技术、发展方向、以及应用市场和应用案例,为测控行业创造了一个极好的沟通渠道和交流平台。

2006“泛华”测控系统技术应用研讨会


  基于虚拟仪器技术的测控系统作为一种以计算机系统为核心、结合模块化测试测量设备的测试技术,以其技术的先进性及应用的灵活性和广泛性得到业界的认可,并在市场上取得了与传统的台式仪器一分天下的巩固位置,其发展前景非常乐观。此次举办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会,是泛华为业界提供推广测控技术、交流行业经验、加强行业合作的一次尝试。
  更多信息请访问:
  www.cechina.cn/0603-006.aspx




 
  
  
  
  
 
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